◆Progettazione miniaturizzata e staccabile, molto facile portare ed insegnamento dell'aula
◆La testa di rilevazione e la fase di esame del campione sono integrate, la struttura è molto stabile e l'anti-interferenza è forte
◆Il campione dell'azionamento di unico asse si avvicina automaticamente verticalmente alla sonda, di modo che l'a punta d'ago è perpendicolare alla ricerca del campione
◆Il metodo d'alimentazione dell'ago intelligente adi rilevazione automatica ceramica piezoelettrica pressurizzata controllata a motore protegge la sonda ed il campione
◆Sistema laterale di osservazione del CCD, osservazione in tempo reale dello stato di inserzione dell'ago della sonda e posizionamento dell'area d'esplorazione del campione della sonda
◆Effetto antiurto semplice e pratico, buon antiurto di metodo della sospensione della primavera,
◆Redattore non lineare integrato dell'utente di correzione dell'analizzatore, caratterizzazione di nanometro ed accuratezza di misura meglio di 98%
| A61.4510 | |
| Modo del lavoro | Constant Height Mode Constant Current Mode |
| Curva corrente di spettro | I-V Curve Curva di Corrente-distanza |
| Gamma DI X-Y di ricerca | 5×5um |
| Risoluzione DI X-Y di ricerca | 0.05nm |
| Gamma di ricerca di Z | 1um |
| Risoluzione di ricerca di Y | 0.01nm |
| Velocità di ricerca | 0.1Hz~62Hz |
| Angolo di ricerca | 0~360° |
| Dimensione del campione | Φ≤68mm H≤20mm |
| Muoversi DI X-Y della fase | 15×15mm |
| Progettazione ammortizzatrice | Sospensione della primavera |
| Syestem ottico | zoom continuo 1~500x |
| Uscita | USB2.0/3.0 |
| Software | Vittoria XP/7/8/10 |
| Microscopio | Microscopio ottico | Microscopio elettronico | Microscopio d'esplorazione della sonda |
| Max Resolution (um) | 0,18 | 0,00011 | 0,00008 |
| Osservazione | 1500x d'immersione in olio | Atomi di carbonio del diamante di rappresentazione | Atomi di carbonio grafitici di ordine alto di rappresentazione |
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| Interazione del Sonda-campione | Segnale di misura | Informazioni |
| Forza | Forza elettrostatica | Forma |
| Corrente del tunnel | Corrente | Forma, conducibilità |
| Forza magnetica | Fase | Struttura magnetica |
| Forza elettrostatica | Fase | distribuzione della carica |
| Risoluzione | Condizione di lavoro | Temperation di lavoro | Damge da provare | Profondità di ispezione | |
| SPM | Atom Level 0.1nm | Normale, liquido, vuoto | Stanza o Temperation basso | Nessuno | 1~2 Atom Level |
| TEM | Punto 0.3~0.5nm Grata 0.1~0.2nm |
Alto vuoto | Stanza Temperation | Piccolo | Solitamente <100nm> |
| SEM | 6-10nm | Alto vuoto | Stanza Temperation | Piccolo | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Atom Level 0.1nm | Alto vuoto eccellente | 30~80K | Damge | Atom Thickness |
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